芯片質(zhì)量檢測高低溫冷熱沖擊循環(huán)試驗(yàn)箱

簡要描述：

芯片質(zhì)量檢測高低溫冷熱沖擊循環(huán)試驗(yàn)箱是質(zhì)量監(jiān)測機(jī)用來測試材料結(jié)構(gòu)或產(chǎn)品在瞬間經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，籍以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適用的對象包括鋰電池、金屬、塑料、橡膠、電子......等材料，可作為產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考

更新時(shí)間：2021-03-12

型號：ZLHS-100-LV廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：816

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冷熱沖擊試驗(yàn)箱用來測試材料結(jié)構(gòu)或產(chǎn)品在瞬間經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，籍以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適用的對象包括鋰電池、金屬、塑料、橡膠、電子......等材料，可作為產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考

適用范圍：

1.電子零件，IC的高低溫沖擊試驗(yàn)；

2.電路板，模塊的高低溫沖擊；

3.主要用于電工電子，汽車，航空航空，軍工等行業(yè)；

4.工業(yè)企業(yè)實(shí)驗(yàn)室，科研院所，高等學(xué)校，檢測認(rèn)證機(jī)構(gòu)是我們的?？停?/span>

芯片質(zhì)量檢測高低溫冷熱沖擊循環(huán)試驗(yàn)箱

1.能提供高低溫突變的試驗(yàn)環(huán)境，供產(chǎn)品試驗(yàn)用；
2.兩相式，試品移動(dòng)；
3.沖擊方式：二溫選擇；
4.采用本公司技術(shù)，成倍提供制冷效率，特別節(jié)省電能；
5.大屏幕彩色顯示運(yùn)行狀態(tài)，人機(jī)對話，中英文選擇；
芯片質(zhì)量檢測高低溫冷熱沖擊循環(huán)試驗(yàn)箱

型號(CM)		ZLHS-100-LV	ZLHS-234-LV	ZLHS-512-LV	ZLHS-1000-LV
工作室尺寸		454550	606060	808080	100100100
外型尺寸		15687159.5	171102184.5	191122226.5	211142266.5
提藍(lán)尺寸		252525	404040	606050	929250
功率(-40℃)		15(KW)	17(KW)	21(KW)	24(KW)
性能指標(biāo)	沖擊范圍	A:-40℃～150℃ B:-55℃～150℃ C:-65℃～150℃
	溫度誤差	高溫室及低溫室均±3℃
	溫度波動(dòng)	高溫室及低溫室均±2℃/±0.5℃（恒溫時(shí)）
	樣品架承重	30kg	30kg	50kg	60kg
控制系統(tǒng)	控制器	日本優(yōu)易控
	精度范圍	設(shè)定精度：溫度±0.1℃，指示精度：溫度±0.1℃，解析度：±0.1℃
	制冷系統(tǒng)	德國進(jìn)口谷輪半封閉水冷式壓縮機(jī)組/法國原裝“泰康”全封閉風(fēng)冷復(fù)迭壓縮制冷
	循環(huán)系統(tǒng)	耐溫低噪音空調(diào)型電機(jī).多葉式離心風(fēng)輪
溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間		≤15S
溫度恢復(fù)時(shí)間		≤5min
溫度沖擊方法		垂直兩箱法/垂直三箱法

公司主營產(chǎn)品：冷熱沖擊試驗(yàn)箱、恒濕恒濕試驗(yàn)箱、高低溫試驗(yàn)箱、步入式溫濕交變試驗(yàn)室、高低溫濕熱交變試驗(yàn)機(jī)、高溫老化房、快速溫變試驗(yàn)箱、高低溫低氣壓試驗(yàn)箱、PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱、紫外線耐候老化試驗(yàn)箱、氙燈耐候老化試驗(yàn)箱、耐寒折彎試驗(yàn)箱、砂塵試驗(yàn)箱、淋雨試驗(yàn)箱、臭氧老化試驗(yàn)箱、換氣老化試驗(yàn)箱、恒溫鼓風(fēng)干燥試驗(yàn)箱、太陽光伏組件試驗(yàn)箱、振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)、跌落試驗(yàn)箱、拉力試驗(yàn)機(jī)等可靠性試驗(yàn)設(shè)備以及定做非標(biāo)機(jī)型。

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